发布网友 发布时间:2022-04-19 18:26
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热心网友 时间:2023-05-13 21:03
无论是国产芯片还是外国的芯片,都有很多种检测方式,检测的方面也各有不同,一般是的芯片测试包括:电参数测试,高低温测试,压力测试,还有芯片失效分析和芯片外观缺陷检测等。矽电半导体的AOI全自动晶粒镜检机就是专门为半导体芯片的晶粒级或晶圆级外观检测而设计的,采用高性能的视觉处理软件及高精度的视觉系统,搭配多组数字光源,配备有自动上下片系统,能全自动完成对芯片多种外观缺陷的精确检测。可取代传统的人工目检检测方式,高效率。检测一致性更好。